Строительная лаборатория

Verios

Это передовое семейство сканирующих электронных микроскопов FEI второго поколения с высочайшей в мире разрешающей способностью. Высокоточный прибор для исследования структуры материалов на нано- и микромасштабном уровне.

Используется для детального анализа поверхности и внутренней структуры строительных материалов с ультравысоким разрешением.

Применение:

Изучение микротрещин, пористости, дефектов и неоднородностей в бетоне, цементе и других строительных материалах
Анализ процессов коррозии арматуры и металлических элементов конструкций
Исследование причин разрушения и деградации материалов при проведении строительных экспертиз

Thermo Scientific™ Quattro SEM

Многофункциональный сканирующий электронный микроскоп (SEM) для высокоточного анализа поверхности и структуры материалов. Современный электронный микроскоп для исследования структуры и состава строительных материалов.

Объединяет режимы высокого и низкого вакуума, что позволяет исследовать как проводящие, так и непроводящие образцы без дополнительной подготовки.

Применение:

Анализ микроповреждений, включений и неоднородностей в строительных материалах, включая бетон, штукатурку и кирпич
Исследование коррозионных изменений в металлических элементах конструкций
Определение причин разрушения материалов при проведении строительно-технической экспертизы

СЭМ Prisma

Многоцелевой и простой в использовании сканирующий электронный микроскоп с катодом из вольфрамовой нити.

СЭМ Prisma предоставляет всестороннюю производительность в области визуализации и аналитики, а уникальный режим естественной среды (ESEM) и полный набор аксессуаров делают его самым оптимальным СЭМ для любых лабораторий

Применение:

Обнаружение трещин, пустот, неоднородностей и дефектов в бетоне, цементе и других материалах
Изучение микроструктуры корродированных металлов и армирующих элементов
Оценка качества строительных материалов и выявление скрытых дефектов при технической экспертизе

Оптический и электронный микроскоп в одном исполнении

Это быстрый, эффективный и универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп.

Уникальная конструкция позволяет применять его для решения большого числа разнообразных задач материаловедения, контроля качества на производстве, криминалистики, фармацевтики, научно-исследовательских задач и для обучения специалистов.

Применение:

Первичная оценка состояния образцов и их поверхностных характеристик в оптическом режиме
Детальный анализ микро- и наноструктуры материалов в электронном режиме
Выявление дефектов, неоднородностей и следов разрушения в строительных материалах

Talos F200i S/TEM

Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200i S/TEM Повышенная производительность, гибкость и разрешающая способность.

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM это новейший просвечивающий (ПЭМ)/ сканирующий (СПЭМ) электронный микроскоп с ускоряющим напряжением до 200 кВ, который позволяет получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением.

Применение:

Анализ наноструктуры строительных материалов и выявление мельчайших дефектов на атомном уровне
Исследование фазового состава, кристаллической структуры и границ раздела материалов
Определение причин разрушения конструкций и глубинных повреждений при сложных технических экспертизах

Thermo Scientific™ Explorer™ 4

Анализатор Thermo Scientific™ Explorer™ 4 представляет собой решение для статистического контроля процессов анализа распределения частиц.

Независимо от того, требуется ли провести анализ всех частиц для контроля качества или найти ту единственную частицу, которая может нанести непоправимый вред.

Применение:

Прецизионная резка, шлифовка и полировка строительных материалов перед микроскопическим исследованием
Подготовка срезов бетона, кирпича, металлов и композитов с сохранением структуры
Обеспечение качества и точности на всех этапах строительно-технической экспертизы

V400ACE

Система фокусированного пучка ионов V400ACE объединяет в себе последние разработки в проектировании ионной колонны, подачи газа и обнаружения конечной точки для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного редактирования передовых интегральных схем.

Высокоточная оптическая система для визуального контроля и измерений параметров поверхности материалов.

Применение:

Измерение размеров трещин, дефектов и неровностей на поверхности строительных материалов
Визуальный контроль состояния образцов перед и после испытаний
Документирование результатов экспертиз с точной фотофиксацией

UltraXRM

UltraXRM является единственной системой для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения, используемой в лабораторных условиях для получения трехмерных изображений образцов микроскопических размеров.

Рентгеновская фокусирующая оптика с большой точностью дает разрешение около 50 нм, легко расширяя возможности рентгеновской томографии за пределы возможностей обычных сканеров.

Применение:

Исследование внутренних дефектов и пустот в бетоне, композитах и других строительных материалах
Анализ слоистых структур и скрытых повреждений без предварительной подготовки образца
Применение в технических экспертизах, где требуется точная 3D-визуализация

Анализатор дефектов 300 HP

Анализатор дефектов 300 HP реализует мощную комбинацию средств автоматизации, ведущих устройств для получения изображений.

Непревзойденного качества травления ионным сфокусированным пучком и фирменную технологию газовой химии пучка для трехмерного анализа и дефектоскопии.

Применение:

Поиск трещин, расслоений и включений в бетонных, металлических и композитных элементах
Контроль качества сварных швов, креплений и соединений
Использование при выездных обследованиях и оперативной технической экспертизе

Xradia VersaXRM

Семейство микроскопов Xradia VersaXRM является последним поколением приборов для 3D рентгеновской микроскопии, оптимизированных для проведения неразрушающей микротомографии.

Обеспечивает визуализацию внутренней структуры объектов без их разрушения, с микрометровым и субмикронным разрешением.

Применение:

Обнаружение внутренних трещин, пустот и неоднородностей в бетоне, камне и других материалах
Построение объемных моделей образцов для детального анализа
Применение в судебной и технической экспертизе при оценке скрытых повреждений

Семейство Titan (С)ПЭМ

Семейство Titan (С)ПЭМ включает в себя самые мощные в мире, имеющиеся в продаже (С)ПЭM: Titan G2 60-300, Titan3 G2 60-300, Titan Krios и Titan EТЕМ (режим естественной среды).

Серия мощных просвечивающих и сканирующих просвечивающих электронных микроскопов (С)ПЭМ для исследований на атомном уровне. Оснащены электронной колонной 60–300 кВ и предназначены для работы с широким спектром материалов в различных условиях.

Применение:

Изучение структуры материалов с субангстремным разрешением, включая атомные решетки и межфазные границы
Анализ сложных процессов в реальном времени
Применение в исследованиях при проведении сложных строительно-технических и научных экспертиз

Строительная лаборатория

Лаборатория строительно-технических экспертиз проводит всесторонние исследования, связанные со строительством и эксплуатацией зданий и сооружений

Лицензии и аккредитации

Получите профессиональную консультацию